(美国)Brent Fultz;(美国)James Howe2017 年出版658 页ISBN:9787312037498
本书介绍了表征物质材料的透射型电子显微镜(TEM)和X-射线衍射(XRD)。与第三版相比,这一版所有章节都进行了更新和修订,并增加了与TEM有关的重要的新技术,如纳米束衍射、电子断层扫描和几何相位分析技术。这本书解....
(美)James Carey,(美)Brent Carlson著;林星,张夏译2003 年出版186 页ISBN:7115111812
本书介绍了框架开发(软件开发)知识。