（美）米乐（J.Hillis Miller）著；单德兴编译；国立编译馆主译1995 年出版198 页ISBN：9575864794
（美）Michael L.Bushnell，（美）Vishwani D.Agrawal著；蒋安平，冯建华，王新安译2005 年出版511 页ISBN：7121014904
VLSI测试包括数字、存储器和混合信号三类电路测试，本书系统地介绍了这三类系统的测试和可测试性设计。全书共分三个部分。第一部分是测试基础，介绍了测试基本概念、测试设备、测试经济学和故障模型。第二部分...
