（美）Michael L.Bushnell，（美）Vishwani D.Agrawal著；蒋安平，冯建华，王新安译2005 年出版511 页ISBN：7121014904
VLSI测试包括数字、存储器和混合信号三类电路测试，本书系统地介绍了这三类系统的测试和可测试性设计。全书共分三个部分。第一部分是测试基础，介绍了测试基本概念、测试设备、测试经济学和故障模型。第二部分...
何荣显主编2008 年出版192 页ISBN：9787538439397
本书套丛书为普通家庭提供3000多道简单易做的食谱，并且给读者食物宜忌、厨房百科、烹饪窍门知识千余条。
