(美)Michael L.Bushnell,(美)Vishwani D.Agrawal著;蒋安平,冯建华,王新安译2005 年出版511 页ISBN:7121014904
VLSI测试包括数字、存储器和混合信号三类电路测试,本书系统地介绍了这三类系统的测试和可测试性设计。全书共分三个部分。第一部分是测试基础,介绍了测试基本概念、测试设备、测试经济学和故障模型。第二部分...
何荣显主编2008 年出版192 页ISBN:9787538439397
本书套丛书为普通家庭提供3000多道简单易做的食谱,并且给读者食物宜忌、厨房百科、烹饪窍门知识千余条。