电子元器件失效分析技术

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工业和信息化部电子第五研究所组编；恩云飞，来萍，李少平编著；师谦，许广宁，何小琦，何胜宗等编写组成员2015 年出版455 页ISBN：9787121272301

本选题是工程应用类书，主要介绍电子元器件失效分析技术。从失效分析概论、失效分析技术、失效分析方法和程序以及失效预防几个方面的内容，使读者全面系统地掌握失效分析方面的基础理论、基本概念，技术和设备、...