(美)Michael L.Bushnell,(美)Vishwani D.Agrawal著;蒋安平,冯建华,王新安译2005 年出版511 页ISBN:7121014904
VLSI测试包括数字、存储器和混合信号三类电路测试,本书系统地介绍了这三类系统的测试和可测试性设计。全书共分三个部分。第一部分是测试基础,介绍了测试基本概念、测试设备、测试经济学和故障模型。第二部分...
王新红主编;王新红,漆丹,蓝澜,李勇,钟志勇,黄云,伍云,谭泽林,丁国民撰2003 年出版594 页ISBN:754383426X
本书对公司法、破产法、证券法、保险、票据等商法学的主要内容进行阐述。