书籍 高频、微波半导体器件的计量测试的封面

高频、微波半导体器件的计量测试

曹余录等编著

出版社

北京:中国计量出版社

出版时间

1992

ISBN

7502605622

标注页数

162 页

PDF页数

172 页

书籍介绍
本书内容包括:晶体管直流参数计量测试
在线购买PDF电子书