书籍 半导体器件及电路的可靠性与退化的封面

半导体器件及电路的可靠性与退化

(英)M. J. 豪斯 (英)D. V. 摩根主编 李锦林等译

出版社

北京:科学出版社

出版时间

1989

ISBN

7030011643

标注页数

463 页

PDF页数

469 页

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