书籍 薄膜结构X射线表征的封面

薄膜结构X射线表征

麦振洪等著

出版社

北京:科学出版社

出版时间

2007

ISBN

7030189949

标注页数

247 页

PDF页数

260 页

书籍介绍
薄膜和多层膜材料是重要的低维材料,如半导体外廷膜及超晶格材料、超导异质薄膜材料、金属磁性薄膜材料以及软物质薄膜材料等,有着丰富的物理内涵和重要的应用。大量研究表明,薄膜和多层膜微结构,特别是界面状态及其结构,直接影响材料和器件的性能。本书结合撰写人员二十年来的工作积累和国内外最新进展,系统介绍应用X射线技术表征薄膜和多层膜微结构的多种基本实验装置、实验数据的分析理论以及各种薄膜和多层膜微结构表征的实例。全书共十六章,既有基础理论、基本原理深入浅出的介绍,也有实验装置和翔实的应用实例。
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