书籍 微纳米MOS器件可靠性与失效机理的封面

微纳米MOS器件可靠性与失效机理

郝跃 刘红侠著

出版社

北京:科学出版社

出版时间

2008

ISBN

9787030205865

标注页数

446 页

PDF页数

463 页

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