书籍 数字集成电路与嵌入式内核系统可测性设计的封面

数字集成电路与嵌入式内核系统可测性设计

(美)克拉茨(Crouch A.L.)著 何虎等译

出版社

北京:机械工业出版社

出版时间

2006

ISBN

7111187067

标注页数

284 页

PDF页数

300 页

书籍介绍
本书介绍测试和可测试性设计基本概念。
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