书籍 电子元器件可靠性试验工程的封面

电子元器件可靠性试验工程

罗雯 魏建中 阳辉等编著

出版社

北京:电子工业出版社

出版时间

2005

ISBN

712100965X

标注页数

350 页

PDF页数

366 页

书籍介绍
本书包括了电子元器件可靠性试验的各主要类别:环境试验(包括13类环境和综合环境试验);寿命试验和加速寿命试验;鉴定试验;极限应力试验;可靠性筛选试验;可靠性增长试验。各试验类别包括了原理、理论模型、试验设计、实施程序、设备要求、关键技术及试验示例等并介绍了相关的可靠性基础知识和数理统计方法,提供了元器件失效分析和破坏性物理分析方法、程序及其关键性技术,使用状态中元器件失效预测技术。
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