书籍 Proceedings IEEE International Symposium on DEFECT and FAULT TOLERANCE in VLSI SYSTEMS 20-27 October的封面

Proceedings IEEE International Symposium on DEFECT and FAULT TOLERANCE in VLSI SYSTEMS 20-27 October

IEEE Computer Society

出版社

Inc

出版时间

2000

ISBN

标注页数

422 页

PDF页数

434 页

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