书籍 公差配合与技术测量的封面

公差配合与技术测量

张皓阳主编 吴爽 李健 周祥国副主编 赵振学主审

出版社

北京:人民邮电出版社

出版时间

2012

ISBN

9787115271129

标注页数

304 页

PDF页数

313 页

书籍介绍
本书主要内容包括尺寸公差与配合、形状和位置公差及其误差的检测、技术测量基础、表面粗糙度及其测量、尺寸链、光滑极限量规、典型零件的公差配合与测量及综和实训指导等。
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