书籍 SoC设计与测试的封面

SoC设计与测试

(美)Rochit Rajsuman著 于敦山等译

出版社

北京:北京航空航天大学出版社

出版时间

2003

ISBN

7810773089

标注页数

210 页

PDF页数

223 页

书籍介绍
本书分为设计和测试两个部分,分别介绍SoC的设计方法和测试方法。在设计部分,介绍SoC设计与传统的ASIC设计流程的差别及会遇到的问题,逻辑核、存储器核及模拟核的设计方法和需要注意的问题以及SoC系统的验证方法。在测试部分,介绍SoC中逻辑核、存储器核及模拟核的测试结构与测试方法。
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