Lattice可编程器件测试技术

本书对系统可编程器件自动编程与测试的关键技术进行了分析和讨论，介绍了针对可编程单元测试的编程资源测试技术、基于可测性设计的逻辑资源测试技术、针对逻辑电路测试向量生成的“功能测试生成算法”以及保证测试向量和测试程序开发效率和质量的《可编程器件测试技术规范》，最后介绍了研究结论并进行结果分析。