数字电路老化预测与容忍

集成电路制造工艺不断进步，电源电压持续降低，集成度大大提高，带动了集成电路产业的飞速发展。然而工艺进步也使得集成电路的老化问题变得日益严重。国际半导体技术路线图（ITRS）在2011年的报告中指出，老化正成为半导体电路面临的严峻挑战。随着集成电路特征尺寸的不断减小，负偏置温度不稳定性（Negative Bias Temperature Instability ）逐渐在集成电路老化效应中占据主导地位，需要科研人员进行深入研究。本书围绕NBTI引起的集成电路老化的预测与动态电路老化防护来展开研究。研究的内容主要针对集成电路老化的预测和集成电路老化的容忍进行分析论述，对于高性能集成电路中常用的多米诺电路，针对其老化研究容忍方法，并提出对于多米诺电路低功耗与抗老化的联合优化方法。本书适合于计算机专业的本科生、研究生以及老师参考阅读。