书籍 硅材料检测技术的封面

硅材料检测技术

康伟超 王丽主编

出版社

北京:化学工业出版社

出版时间

2009

ISBN

9787122055682

标注页数

144 页

PDF页数

152 页

书籍介绍
本书主要介绍了半导体材料常规电学参数的物理测量方法、检测晶体缺陷的化学腐蚀法等。
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