书籍 空间单粒子效应  影响航天电子系统的危险因素的封面

空间单粒子效应 影响航天电子系统的危险因素

(美)EDWARD PETERSEN著 韩郑生 沈自才 丁义刚 赵发展译

出版社

北京:电子工业出版社

出版时间

2016

ISBN

712128197X

标注页数

304 页

PDF页数

316 页

书籍介绍
本书主要讲述电子器件在空间环境中的单粒子效应,器件在空间应用时单粒子辐照效应的地面评估方法,及其空间应用时的错误概率计算。全书共16章,第1章和第2章主要介绍电子元器件空间单粒子效应的基础知识;第3章至第5章对地面模拟空间单粒子效应的试验进行详细介绍、阐述试验数据的分析方法;第6章讲述试验数据如何与器件机理进行对应;第7章、第8章、第11章至第16章讲述空间单粒子翻转错误率的计算与空间环境中的预估;第9章和第10章介绍两种特殊的单粒子效应。
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