书籍 公差配合与技术测量的封面

公差配合与技术测量

吴爽 李健等编

出版社

上海:同济大学出版社

出版时间

2016

ISBN

9787560861975

标注页数

222 页

PDF页数

230 页

书籍介绍
本书主要内容包括尺寸公差与检测、形位公差及检测、表面粗糙度及检测、技术测量基础、圆柱螺纹公差及检测、平键、花键联接的公差与检测、圆锥的公差与检测、尺寸链、渐开线圆柱齿轮的公差与测量、综合检测实例。本书适合于普通高等学校机械类各专业师生在教学中使用,也可供从事机械设计、机械制造、标准化、计量测试等工作的工程技术人员参考使用。
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