书籍 互换性与技术测量基础  第3版的封面

互换性与技术测量基础 第3版

李军主编

出版社

武汉:华中科技大学出版社

出版时间

2013

ISBN

9787560990576

标注页数

340 页

PDF页数

350 页

书籍介绍
本书主要讲授互换性的基本概念,测量技术基础和现代测量技术与方法,公差与配合的结构、规律、特征、基本内容及公差与配合的选用,公差检测的基本概念和技术等内容。本书强调基础,突出应用,同时反映国内外一定的最新公差检测技术与测量技术。
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