1章 半导体封装基本知识及CMOS影像感测器发展历史 1
1-0 定义半导体 2
1-1何谓半导体封装? 6
1-2 现今半导体封装业界与影像感测器趋势 7
1-3何谓半导体影像感测器?(CMOS IMAGE SENSOR) 9
1-4半导体影像感测器演变历程 11
1-5 CMOS感测元件应用及市场规模预估 13
1-6 CMOS/CCD影像感测器的未来发展 19
2章 半导体影像感测器封装流程 29
2-1 CMOS光学影像处理流程图示 30
2-2CMOS影像光感应图示 32
2-3 半导体影像感测器——晶片制造流程 37
3章 半导体影像感测器基本结构 49
3-1半导体影像感测器构装数位科技体系 50
3-2半导体影像感测器构装技术层次及功能 52
3-3 半导体影像感测器封装体种类 53
3-4 CMOS影像感测器模组结构设计 56
4章 半导体影像感测器封装材料简介 63
4-1封装材料简介 64
4-2高分子封装材料的性质 75
4-3 金属导线架/高分子基板之受力 81
5章 半导体影像感测器封装制程介绍(半自动) 87
5-1 CMOS封装制程设备简介(半自动) 88
5-2 前段制程(1) 93
5-3前段制程(2) 105
5-4后段制程 141
6章 半导体影像感测器封装制程介绍(全自动) 151
6-1 CMOS封装制程简介(全自动) 152
6-2 前段制程(1)(2) 153
6-3 前段制程(3)(4) 170
7章 半导体影像感测器封装可靠性及信赖度简介 177
7-1 结构可靠性基本概念 178
7-2可靠性及信赖度测试种类 180
7-3可靠性试验项目 182
7-4可靠性及信赖度失效分析实例 189
7-5封装散热分析 196
8章 理论材料学失效界面分析与设计 213
8-1 材料微结构键结 214
8-2 材料界面能量与分子结合 218
8-3界面原子流动与热能量设计 227
8-4材料封装界面现象 233
9章 测试概论 241
9-1 封装最终测试作业 242
9-2 测试与检验技术 246
9-3CMOS逻辑IC最终测试类型及方法实例 250
10章 新热门制程技术 267
10-1LCOS基本概念 268
10-2LCOS投影机的历史沿革 276
10-3新复合制程技术 279
11章 半导体影像感测器相关技术名词解释 287
附录 常见CMOS影像感测器各封装制程缺陷模式 301