Semiconductor material and device characterization third edition

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Dieter K.Schroder2006 年出版779 页ISBN：0471739065

MATERIALS CHARACTERIZATION USING NONDESTRUCTIVE EVALUATION(NDE)METHODS

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HANS-GEORG HERRMANN2017 年出版0 页ISBN：

Catalyst Characterization Science Surface and Solid State Chemistry

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2222 年出版616 页ISBN：

soil and plant analysis for forest ecosystem characterization

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2222 年出版0 页ISBN：

thin films and coatings toughening and toughness characterization

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2222 年出版0 页ISBN：

soil and plant analysis for forest ecosystem characterization

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2222 年出版0 页ISBN：

scanning probe microscopy for industrial applications nanomechanical characterization

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2222 年出版0 页ISBN：

TEMPERATURE-PROGRAMMED REDUCTION FOR SOLID MATERIALS CHARACTERIZATION

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1986 年出版199 页ISBN：082477583X

Materials Characterization:Introduction to Microscopic and Spectroscopic Methods

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Leng2008 年出版338 页ISBN：

POLYMER CHARACTERIZATION SPECTROSCOPIC CHROMATOGRAPHIC AND PHYSICAL INSTRUMENTAL METHODS

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CLARA D.CRAVER1983 年出版792 页ISBN：0841207003