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TYPICAL ELECTRON MICROSCOPE INVESTIGATIONS 4
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1976 年出版112 页ISBN：
INTERNATIONAL ELECTRON DEVICES MEETING 1989
2222 年出版913 页ISBN：
INTERNATIONAL ELECTRON DEVICES MEETING 1990
2222 年出版986 页ISBN：
Pattern-Oriented Analysis and Dwesign
[美]Sherif M.Yacoub Hany H.Ammar 著2004 年出版372 页ISBN：7508322096
设计模式有着巨大威力，但要构建健壮的大规模系统，这还远远不够。面向模式的分析和设计（POAD）介绍了一种新的方法学，用以“组合”设计模式来构建可靠的、健壮的大规模软件系统。使用POAD，你就能快速构建更健壮、更...
INTERNATIONAL ELECTRON DEVICES MEETING 2004
2004 年出版1085 页ISBN：0780386841
INTERNATIONAL ELECTRON DEVICES MEETING 2002
2002 年出版957 页ISBN：0780374622
SCANNING ELECTRON MICROSOCOPY 1979 I
1979 年出版598 页ISBN：0931288045
international ELECTRON DEVICES meeting 2000
2000 年出版871 页ISBN：0780364384
international ELECTRON DEVICES meeting 1999
1999 年出版942 页ISBN：0780354109
INTERNATIONAL ELECTRON DEVICES MEETING 1996
2222 年出版959 页ISBN：0780333934
