返回首页 联系帮助
中华人民共和国国家标准 GB/T20521-2006/IEC60747-14-1:2001 半导体器件第14-1部分:半导体传感器-总则和分类=Semiconductor devices-Part
下载此书RAR压缩包在线购买PDF电子书
2222 年出版0 页ISBN:
中华人民共和国国家标准 GB/T16927.2-1997 eqv IEC60-2:1994 高电压试验技术第二部分:测量系统=High-voltage test techniques Part2:
中华人民共和国国家标准 GB/T16913.10-1997 粉尘物性试验方法 第10部分:比电阻的测定 圆盘法=Methods of dust character test-Part10:De
中华人民共和国国家标准 GB/T16913.2-1997 粉尘物性试验方法 第2部分:有效密度的测定 比重瓶法=Methods of dust character test-Part2:Det
中华人民共和国国家标准 GB/T16913.3-1997 粉尘物性试验方法 第3部分:堆积密度的测定 自然堆积法=Methods of dust character test-Part3:De
中华人民共和国国家标准 GB/T20522-2006/IEC60747-14-3:2001 半导体器件第14-3部分:半导体传感器-压力传感器=Semiconductor devices-Part
中华人民共和国国家标准 GB/T21511.1-2008 纳米磷灰石/聚酰胺复合材料第1部分:命名=Nano-apatite/polyamide composite-Part1:Designati
中华人民共和国国家标准 GB/T21511.2-2008 纳米磷灰石/聚酰胺复合材料第2部分:技术要求=Nano-apatite/polyamide composite-Part2:Technol
中华人民共和国国家标准 GB/T 17587.2-1998 idt ISO 3408-2:1991 滚珠丝杠副 第2部分:公称直径和公称导程 公制系列=BALL SCREWS-PART 2:N
中华人民共和国国家标准 GB/T16913.1-1997 粉尘物性试验方法 第1部分:试验尘样的采集=Methods of dust character test-Part2:Dust samp