2009 年出版319 页ISBN：9787030256515
测试性与机内测试（BIT）是当前国内外装备保障研究和应用的热点之一，国内外研究和应用实践表明，机内测试（Built－inTest,BIT）技术是解决装备测试诊断与维修保障的最有效技术途径之一。但机内测试的一个国际性难题就是...
2011 年出版337 页ISBN：9787302254812
本书共15章，主要包括经典的固定门限检测，均值类CFAR检测器、韦布尔和对数正态杂波背景中的CFAR检测器、复合高斯分布杂波中的CFAR处理、非参量CFAR处理等等。...
