2016 年出版191 页ISBN：9787111521846
设计方法和工艺技术的革新使得集成电路的复杂度持续增加。现代集成电路（IC）的高复杂度和纳米尺度特征极易使其在制造过程中产生缺陷，同时也会引发性能和质量问题。本书包含了测试领域的许多常见问题，比如制程偏...
2015 年出版87 页ISBN：9787551711326
本书不仅运用稳定函数的帕德逼近理论分别研究了自变量分段连续的脉冲微分方程、自变量分段连续的超前脉冲微分方程、自变量分段连续的延迟脉冲微分方程数值解的稳定性和振动性；而且还运用没有脉冲扰动微分方...
