康伟超,王丽主编2009 年出版144 页ISBN:9787122055682
本书主要介绍了半导体材料常规电学参数的物理测量方法、检测晶体缺陷的化学腐蚀法等。
张银霞,迟立颖主编2009 年出版302 页ISBN:9787113101695
本书主要介绍了电子信息技术的基本知识、计算机硬件的组成、操作系统等。
吴亚芹,张颖,王玉编著2009 年出版121 页ISBN:9787122062420
本书介绍了插花基础知识、插花的构图、基础插花、会议用花的设计与制作等。
朱贤,汪颖慧,聂辉文主编2009 年出版129 页ISBN:9787542743329
本书介绍有关量具的使用、尺寸公差与配合、形位公差及检测、螺纹公差与检测等。